Painel Setorial Inmetro - Metrologia Forense na Análise de DNA
Foi realizado no dia 28 de Julho de 2010 o Painel Setorial Inmetro - Metrologia Forense na Análise de DNA, com o objetivo de reunir todos os atores e iniciativas para discutir e alinhar as ações voltadas à viabilização e consolidação de práticas internacionais de qualidade para laboratórios de identificação humana por DNA.
Programa de Acreditação para Laboratórios de Perícias Forenses - Marcos Aurélio Lima de Oliveira
Addressing the Unique Requirements of Human Identification Applications - Lisa Calandro
Internal Validation - Timothy McMahon
Projects, Programs and Policy Departmente (DEPRO) - Edson Wagner Barroso
Development of a Certified Reference Material for DNA - Lilian Costa
Grupo de Trabalho de DNA Forense na ABNT CEE-137 - Rodrigo Moura