.: Inmetro participa da Semana do Sistema Interamericano de Metrologia :.

Entre os dias 14 e 18 de novembro, o Inmetro participou da Semana do Sistema Interamericano de Metrologia (SIM Week), evento que, este ano, aconteceu em Montevidéu, no Uruguai. Entre as atividades do evento estão a Assembleia Geral do SIM, o Fórum Metrology for Innovation e a reunião da Quality System Task Force (QSTF).

Na ocasião, o Inmetro, por meio do diretor de Metrologia Científica e Tecnologia, Humberto Brandi, assinou a adesão do Brasil à nova estrutura formal e legal do SIM. Onze países assinaram o acordo e, aos poucos, outros farão adesão, à medida que resolverem questões internas para a legalização.

A assinatura da formalização do SIM como entidade legal é um marco histórico, pois, até então, o Sistema operava de maneira informal, fazendo uso de recursos oriundos da Organização dos Estados Americanos. Na condição de entidade legal, o SIM poderá ter acesso a fontes de recursos que irão impulsionar fortemente suas atividades.

No Fórum Metrology for Innovation, foram apresentadas palestras dos institutos americano (NIST), alemão (PTB), uruguaio (LATU) e do Inmetro, além de ter havido participação de três empresas dos EUA, Argentina e Uruguai.

Na reunião da QSTF, o Inmetro foi representado pelo coordenador da Qualidade da Dimci, Silvio dos Santos. Na ocasião foram discutidos temas de interesse comum relacionados à gestão da qualidade dos institutos nacionais de metrologia e avaliados os sistemas de gestão da qualidade de 10 institutos das Américas, sendo dois deles instituições designadas.