Página InicialNotícias e Eventos Programação Escola Avançada

  
.: Programação Escola Avançada :.


Horário

Segunda
17 de Novembro

Terça
18 de Novembro

Quarta
19 de Novembro

08:00

Café de boas-vindas

Auditório

Centro de Convenções

Auditório

Centro de Convenções

08:30

Abertura

Palestra: Primary Methods

Dr. Ed de Leer (NMi/Netherland)

 

Palestra:

IDMS - Inorganic Analysis-LGC

Dra. Ruth Hearn (LGC/UK)

Palestra: Credenciamento de Laboratórios

João Carlos Antunes (Inmetro)

09:30

Palestra:

Metrologia no Mundo

Prof. Dr. G. Moscati (USP/Inmetro)

Palestra:

The Role of Reference Materials

Dr. A.V.D. Veen (NMi/Netherland)

 

Palestra:

Measurement uncertainty in proficiency testing

Dr. A.V.D. Veen (NMi/Netherland)

 

10:30

coffee break

coffee break

 

coffee break

 

11:00

Palestra:

World Structure in Chemical Metrology (CCQM)

Dr. Ed de Leer (NMi/Netherland)

Palestra:

Gas Metrology

Dr. Ed de Leer (NMi/Netherland)

 

Palestra:

Metrologia e Barreiras Técnicas

Paulo Ferracioli (Inmetro)

SALA 1

Mini-Curso

Medição de pH: Aspectos Metrológicos

12:00

Palestra:

Metrologia Científica e Industrial

Prof. Dr. João A. H. da Jornada (Inmetro)

Palestra:

Detecção Fototérmica de Adulterantes em Combustíveis Automotivos

Prof. Dr. Helion Vargas (UENF/Brasil)

 

Palestra: Barreiras Técnicas em Química

Profª. Dra. Adelaide Antunes (UFRJ/Brasil)

Drª Isabel Cristina Serta Fraga e Drª Monique Audrey Getrouw

(Inmetro)

13:00

Almoço

Almoço

Almoço

Almoço

 

14:00

Palestra:

Metrologia Química no Brasil

Dra. Vanderléa de Souza

(Inmetro)

Palestra:

Aspectos Metrológicos em Bioquímica: determinação de perfis de DNA

Prof. Dr. Franklin David Rumjanek (UFRJ/Brasil)

 

Palestra:

Produção de Materiais de Referência

Dr. Ricardo Rezende Zucchini

(IPT/Brasil)

Centro de Convenções

Mesa Redonda

(Round Table)

 

15:00

Palestra:

Vocabulário Internacional de Metrologia

José Carlos Valente (Inmetro)

Palestra:

O Papel da Metrologia Química na Cromatografia

Prof. Dr. Francisco Radler

(UFRJ/Brasil)

Palestra:

Processos Eletroanalíticos

Prof. Dr. Pércio (PUC-RJ)

Mesa Redonda

(Round Table)

Metrologia Química e Educação

16:00

coffee break

coffee break

coffee break

coffee break

 

16:30

Palestra:

Traceability in Chemistry

Palestra:

A Espectrometria de Massas com Plasma Indutivamente Acoplado (ICP-MS): Aspectos Metrológicos

Prof. Dr. N. Miekeley (PUC-RJ)

 

Materiais de Referência

(Reference Materials)

 

17:30-17:45

Dra. Vanderléa de Souza (Inmetro)

       

 

Horário

Quinta
20 de Novembro

Sexta
21 de Novembro

08:00

Auditório

SALA 1

Centro de Convenções

Auditório

08:30

Palestra:

Metrology in Eletrochemistry: CCQM Activities

Dr. M. Mariassy

(SMU/Eslováquia)

 

Curso

Estimativa de Incerteza em Química Analítica:

Estudo de caso

Paulo Couto (Inmetro)

Palestra:

Critical Evaluation of Isotope Dilution Mass Spectrometry as a Primary Method for Organic Chemical Analysis

Dr. Willie May (NIST)

09:30

Palestra:

Metrology in Eletrochemistry: Conductivity and Couloumetry

Drª. Petra Spitzer

(PTB/Alemanha)

 

8:30 - 17:30

(vagas limitadas)

Mesa Redonda

 

Financiamento de Projetos em Metrologia Química

10:30

coffee break

   

coffee break

11:00

Palestra:

Validação de Métodos Analíticos

Dr. Oscar Bahia

Palestra:

Metrology in Eletrochemistry: Primary pH

Dr. M. Mariassy

(SMU/Eslováquia)

 

Representantes dos órgãos de fomento

12:00

Palestra:

Intercomparações Laboratoriais

Sérgio Motta (Senai-BA/Brasil)

   

Palestra:

A Técnica de INAA

Profª. Dra. Elisabete De Nadai (CENA/USP/Brasil)

13:00

Almoço

   

Almoço

14:00

Palestra:

NIST Activities for Underpinning Industrial Compliance with U.S. Regulations Regarding Nutrients and Contaminants in Food

Dr. Willie May (NIST)

Mesa Redonda

Medição de pH e condutividade em soluções aquosas.

 

 

Enceramento

15:00

Palestra:

Reference Material Program in CENAM

Maria del Rocio Arvizu

(CENAM/México)

     

16:00

coffee break

   

coffee break

16:30

Palestra:

A Técnica de ID-ICP-MS: Características, Aplicações e Aspectos Metrológicos

Dra. Maria Fernanda Giné

(CENA/USP/Brasil)

     

17:30-17:45