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Escola Avançada em Metrologia Química

.: Escola Avançada em Metrologia Química :.

Palestras (PDF)

Critical Evaluation of ID-MS as a primary method for Organic Chemical Analysis-WMay	1.182kb
Documento Diretrizes Estrategicas 2003-2007	346kb
Measurement uncertainty in Proficiency testing-AVDVeen	844kb
The role of Reference Materials-AVDVeen	253kb
Utilização de Materiais de Referência-RZucchini	249kb
World Structure for Metrology in Chemistry (CCQM)	325kb
Vocabulário Internacional de Termos Fundamentais e Gerais de Metrologia (VIM)	629kb
Validação de Metodos Analíticos	342kb
Traceability of Measurement Results	470kb
Traceability of Measurement Results (II)	282kb
Reference Materials Program in CENAM	1.468kb
O Papel da Metrologia Química na Cromatografia	1.220kb
Metrologia Química no Brasil	911kb
Barreiras Técnicas e Metrologia	516kb
Materias de Referência Radioativos	151kb
Ïntercomparações Laboratoriais	184kb
Inorganic Analysis by Isotope Dilution Mass Spectrometry	509kb
Traceability of Measurement Results in Gas Composition Analysis	473kb
Credenciamento de Laboratórios no Brasil de Laboratórios no Brasil	681kb
Barreiras Técnicas em Química Técnicas em Química	1.420kb
Aspectos Metrológicos em Bioquímica - Determinação de perfis de DNA (*)	8.441kb
Food Safety and Nutrition (*)	3.695kb
Metrologia no Mundo (*)	3.989kb
Activities of the Electrochemical Analysis WG (*)	1.693kb
Metrology in Eletrochemistry - Conductivity and Coulometry (*)	2.714kb
Processos Eletroanalíticos (*)	5.017kb
Diluição isotópica e espectrometria de massas com fonte de plasma ID-ICP-MS : características, aplicações e aspectos metrológicos (*)	1.679kb

(*) Para obter este arquivo, escreva para dquim@inmetro.gov.br

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