| Labmi (Laboratório de Microscopia) |
| SUBGRUPO |
ITEM |
ITEM/ESPECIFICAÇÃO |
| 01 - Microscopia Eletrônica de Varredura |
| |
8532 |
Imagem por Microscopia Eletrônica de Varredura (Emissão termo-iônica - Filamento) |
| 8534 |
Análise Química por Espectroscopia por Dispersão de Energia (EDS) |
| 8802 |
Textura cristalográfica por EBSD |
| 8804 |
Preparação de amostra metalográfica para EBSD |
| 8805 |
Outros serviços de microscopia eletrônica - DIMAT |
| 8245 |
Micro Corte por Feixe Focalizado de Íons (FIB) para Análise de Seção Transversal |
| 8246 |
Micro Corte por Feixe Focalizado de Íons (FIB) para Preparação de Amostras para Microscopia Eletrônica de Transmissão |
| 8284 |
Imagem por Microscopia Eletrônica de Varredura (Emissão por efeito de campo - FEG) |
| 8793 |
Litografia por feixe Focalizado de Íons (FIB) |
| 8794 |
Análise por Microscopia de Feixe de Íons de Hélio |
| 02 - Microscopia Eletrônica de Transmissão |
| |
8285 |
Imagem por Microscopia Eletrônica de Transmissão (Emissão termo-iônica - Filamento) |
| 8286 |
Imagem por Microscopia Eletrônica de Transmissão (Emissão por efeito de campo - FEG) |
| 03 - Microscopia Ótica |
| |
8806 |
Análise metalográfica - imagem (MO) |
| 8807 |
Tamanho de Grão (MO) |
| 8810 |
Preparação de amostra metalográfica para MO |
| 8811 |
Análise por Microscopia Óptica de Campo Próximo (TERS) |
| 04 - CEATIM (Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para uso Multiusuário) |
| |
7501 |
CEATIM TITAN |
| 7502 |
CEATIM - Tecnai 80-120kV |
| 7503 |
CEATIM Helios Nanolab 650 |
| 7504 |
CEATIM Quanta 200 |
| 7505 |
CEATIM Nova Nanolab 600 |
| 7506 |
CEATIM Nova Nanolab 600 - FIB preparação de amostra para TEM |
| 7507 |
CEATIM Zeiss Orion Nanolab TriBean (He,Ne e Ga) |
| 7508 |
CEATIM Helios Nanolab 650 - FIB para seção transversal |
| 7509 |
CEATIM Nova Nanolab 600 - FIB seção transversal |
| 7510 |
CEATIM Hélios Nanolab 650 - FIB preparação de amosta para TEM |
| 7511 |
CEATIM Magelam 400 |
| 7558 |
CEATIM Quanta 200 -Análise Química por espectroscopia por dispersão de energia - EDS |
| Lafes (Laboratório de Fenômenos de Superfície e Filmes Finos) |
| SUBGRUPO |
ITEM |
ITEM/ESPECIFICAÇÃO |
| 01 - Fenômenos de Superfície |
| |
8186 |
Imagem Topográfica por Microscopia de Força Atômica |
| 8187 |
Análise Química de Superfícies por Espectroscopia de Elétrons (XPS e AES) |
| 8188 |
Análise de superfície por STM |
| 8950 |
Análise de Rugosidade por AFM |
| 8951 |
Análise Química de Superfícies (XPS, Quanti) |
| 8952 |
Análise Química de Superfícies (XPS, Profundidade) |
| 02 - Deposição de Metais |
| |
8367 |
Deposição de filmes finos em substratos planos com área de no máximo 5x5 cm e espessura de 10 a 5000 A com erro máximo de 5% |
| 8423 |
Produção e caracterização de dispositivos orgânicos OLEDS e/ou fotovoltaicos |
| 03 - CEATIM (Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para uso Multiusuário) |
| |
7512 |
Microscópio de Força Atômica Nanowizard - JPK Instruments |
| 7513 |
Microscópio de Varredura por Tunelamento c/ Ultra-Vácuo Omicron |
| 7514 |
Sistema de Análise de Superfície XPS Omicron |
| 7515 |
AFM/Raman Witec |
| 7526 |
Sistema de Produção de Filmes Finos Metálicos Orgânicos e Óxidos em Alto Vácuo |
| Lates (Laboratório de Propriedades Termofisicas e Espectroscopias) |
| SUBGRUPO |
ITEM |
ITEM/ESPECIFICAÇÃO |
| 01- Espectroscopia Optica e Difração de Raios X |
| |
8812 |
Espectroscopia no Infravermelho por Transformada de Fourier. |
| |
8203 |
Espectroscopia de Espalhamento Raman |
| |
8204 |
Difração de Raios X |
| |
8205 |
Tensão Residual por Difração de Raios X |
| |
8716 |
Ensaio de Espectroscopia na região do UV-Visível-NIR |
| |
8206 |
Outros serviços em Espectroscopia Óptica e Difração de Raios X:
- Difração de raios X de pó, análise qualitativa de fases.
- Análise química qualitativa por fluorescência de raios X.
- Difração de raios X de pó, análise quantitativa de fases via método de Rietveld.
- Caracterização de poliestireno para análise FT-IR.
- Análise dimensional de cristalitos por difração de raios X.
- Quantificação de Defeitos em Grafeno por Espectroscopia Raman.
- Identificação de ângulo de rotação de bicamada rodada de grafeno por Espectroscopia Raman.
- Identificação de Número de Camadas de Grafeno por Espectroscopia Raman.
|
| |
8812 |
Obtenção de espectro de FT-IR por transmitância em pastilha de KBr. |
| 02 - Análises Térmicas e Materiais Particulados |
| |
8820 |
Determinação de área específica (BET) e volume e diâmetro de poros (Gurvich) por adsorção de nitrogênio. |
| |
8826 |
Determinação do diâmetro hidrodinâmico de nanopartículas em suspensão por espalhamento de luz dinâmico |
| |
8225 |
Pureza por Calorimetria Exploratória Diferencial (DSC) de amostras líquidas e sólidas (pureza superior a 98,5%) na faixa de temperatura entre -90 e 400ºC |
| |
8227 |
Outros serviços em análises térmicas e materiais particulados
- Análise termogravimétrica (TGA).
- Determinação do Potencial Zeta por DLS.
- Análise mecânica dinâmica (DMA).
- Verificação do equipamento DLS para análise de tamanho de partículas em suspensão.
- Medição de difusividade térmica de amostras opacas pelo método flash.
|
| |
8826 |
Determinação do diâmetro hidrodinâmico de nanopartículas em suspensão por espalhamento de luz dinâmico (DSL) |
| |
7530 |
Relatório Técnico Lates |
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7965 |
MRC Hidroxiapatita - A (cristalitos anisotrópicos) |
| |
7966 |
MRC Hidroxiapatita - I (cristalitos isotrópicos) |
| |
8715 |
Ensaio por Calorimetria Exploratória Diferencial |
| 03 - CEATIM (Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para uso Multiusuário) |
| |
7516 |
CEATIM DRX D8 Focus |
| 7517 |
CEATIM - FTIR Spectrum GX |
| 7518 |
CEATIM - DRX - D8 Discover |
| 7519 |
CEATIM - UVVIS - Lambda 950 |
| 7520 |
CEATIM Raman Renishaw |
| 7521 |
CEATIM - Raman Horiba |
| 7199 |
CEATIM BET - Analisador de Área Superficial |
| 7226 |
CEATIM - Fluorescência de raio X Bruker |
| Labit (Laboratório de Biomateriais e Tribologia) |
| SUBGRUPO |
ITEM |
ITEM/ESPECIFICAÇÃO |
| 01 - Tribologia |
| |
8371 |
Ensaio de Desgaste utilizando um Tribômetro. |
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8693 |
Ensaio de Riscamento Utilizando um Tribômetro |
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8508 |
Ensaio de Prótese de Quadril utilizando um equipamento simulador |
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8733 |
Ensaio de desgaste de prótese de joelho utilizando um equipamento simulador. |
| |
7531 |
Relatório Técnico Labit. |
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8795 |
Ensaio de desgaste de prótese de disco cervical utilizando um equipamento simulador. |
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8105 |
Outros serviços em Tribologia:
- Medição de topografia de superfícies por perfilometria.
- Análise de superfície por microscopia óptica.
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| 02 - CEATIM (Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para uso Multiusuário) |
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7522 |
CEATIM - Tribômetro Tribolab Bruker com módulo de ensaio de atrito em alta carga |
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7523 |
CEATIM - Tribômetro UMT/UMNT CETR com módulo de ensaio de riscamento |
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7524 |
CEATIM - Tribômetro UMT/UMNT CETR com módulo de ensaio de atrito |
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7525 |
CEATIM - Perfilômetro PGI 830 Taylor Hobson |
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