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Página InicialLaboratóriosEnsaio - Divisão de Metrologia de Materiais

  
.: Ensaio - Divisão de Metrologia de Materiais :.


Labmi (Laboratório de Microscopia)
Lafes ( Laboratórios de Fenômenos de Superfície)
Lades (Laboratório de Difração e Espectroscopia)
Latep ( Laboratório de Análises Térmicas e Materiais Particulados)
Labit (Laboratório de Biomateriais e Tribologia)
Lador (Laboratório de Dispositivos Orgânicos)

 

Labmi (Laboratório de Microscopia)
SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
01 - Microscopia Eletrônica de Varredura
  8532  Imagem por Microscopia Eletrônica de Varredura (Emissão termo-iônica - Filamento)
8534  Análise Química por Espectroscopia por Dispersão de Energia (EDS)
8802 Textura cristalográfica por EBSD
8804 Preparação de amostra metalográfica para EBSD
8805 Outros serviços de microscopia eletrônica - DIMAT
8245 Micro Corte por Feixe Focalizado de Íons (FIB) para Análise de Seção Transversal
8246 Micro Corte por Feixe Focalizado de Íons (FIB) para Preparação de Amostras para Microscopia Eletrônica de Transmissão
8284 Imagem por Microscopia Eletrônica de Varredura (Emissão por efeito de campo - FEG)
7507 CEATIM Zeiss Orion Nanolab TriBean (He,Ne e Ga)
02 - Microscopia Eletrônica de Transmissão
  8285 Imagem por Microscopia Eletrônica de Transmissão (Emissão termo-iônica - Filamento)
8286 Imagem por Microscopia Eletrônica de Transmissão (Emissão por efeito de campo - FEG)
03 - Microscopia Ótica
  8806 Análise metalográfica - imagem (MO)
8807 Tamanho de Grão (MO)
8810 Preparação de amostra metalográfica para MO

Lafes (Laboratórios de Fenômenos de Superfície)
SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
01 - Fenômenos de Superfície
  8186 Imagem Topográfica por Microscopia de Força Atômica
  8187 Análise Química de Superfícies por Espectroscopia de Elétrons (XPS e AES)

Lades (Laboratório de Difração e Espectroscopia)
SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
01- Espectroscopia Optica e Difração de Raios X
  8812 Espectroscopia no Infravermelho por Transformada de Fourier.
  8203 Espectroscopia de Espalhamento Raman
  8204 Difração de Raios X
  8205 Tensão Residual por Difração de Raios X
  8716 Ensaio de Espectroscopia na região do UV-Visível-NIR

Latep (Laboratório de Análises Térmicas e Materiais Particulados)
SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
01 - Análises Térmicas e Materiais Particulados
  8820  Determinação de área específica, volume e diâmetro de poros por adsorção de nitrogênio
  8826  Determinação do diâmetro hidrodinâmico de nanopartículas em suspensão por espalhamento de luz dinâmico
  8225 Pureza por Calorimetria Exploratória Diferencial (DSC) de amostras líquidas e sólidas (pureza superior a 98,5%) na faixa de temperatura entre -90 e 400ºC
  8226 Condutividade Térmica para Materiais de Baixa Condutividade Térmica pelo método de placas quentes protegidas na faixa de temperatura entre 25 e 100ºC
  8127 Condutividade térmica para materiais de baixa condutividade térmica pelo método de placas quentes protegidas na faixa de temperaturas entre 100 e 250 ºC
  8605 Condutividade térmica para materiais de baixa condutividade térmica pelo método de placas quentes protegidas na faixa de temperaturas entre 250 e 550 ºC
  8606 Condutividade Térmica para Materiais de Baixa Condutividade Térmica pelo método de fluxímetro de calor
  8715 Ensaio por Calorimetria Exploratória Diferencial

Labit (Laboratório de Biomateriais e Tribologia)
SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
01 - Tribologia
  8371 Ensaio de Desgaste utilizando um Tribômetro.
  8693 Ensaio de Riscamento Utilizando um Tribômetro
  8508 Ensaio de Prótese de Quadril utilizando um equipamento simulador

Lador (Laboratório de Dispositivos Orgânicos)
SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
01 - Deposição de Metais
  8367  Deposição de filmes finos em substratos planos com área de no máximo 5x5 cm e espessura de 10 a 5000 A com erro máximo de 5%


 

 



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