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Acreditação Nº 466
Data da Acreditação 24/05/2010
ACREDITAÇÃO VIGENTE Clique aqui para mais informações.
Última Revisão do Escopo 27/03/2024
Razão Social LAFTEC Comércio e Manutenção de Instrumentos de Precisão Ltda.
Nome do Laboratório LAFTEC
Situação Ativo
Endereço Rua Melvin Jones, 84
Bairro Bela Vista
CEP 09040300
Cidade Santo André
UF SP
Telefone (11) 4427.3616
Fax (11) 4427.3616

Grupo de Serviço de Calibração DIMENSIONAL
Gerente Técnico Marlon José Martins
Email marlon@laftec.com.br

ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO


Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)

(Não Aplicável)

MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes0 mm á 50 mm 0,0005 mm

(Realizados nas instalações permanentes)

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE ÂNGULO
Goniômetro0º até 360º
Método de medição em projetor de perfil ou microscópio com escala goniométrica
Nível de Bolha0 mm/m Até 100 mm/m 0,006mm/m
Método de comparação com o ângulo de referência gerado pela mesa ou régua de seno ou bloco padrão angular contra o ângulo indicado pelo nível
goniométrico
Nível Eletrônico0 mm/m até 100 mm/m 0,002 mm/m
Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um sistema gerador de pequenos deslocamentos, fuso micrométrico com uma base
de apoio de comprimento conhecido

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Calibrador de Relógio Comparador / Apalpador0 mm Até 150 mm 0,0006 mm
Método de comparação com máquina de medição linear
Comparador de Diâmetros InternosAté 100 mm 0,002 mm
Método de comparação com calibrador de relógios ou máquina de medição linear
Gabarito de FolgaAté 10 mm 0,0010 mm
Método de medição com máquina de medição linear
Gabarito de Raio0 mm até 30 mm 0,01 mm
Método de medição com projetor de perfil, máquina medição por coordenadas ou microscópio
Medidor de Altura0 mm Até 1000 mm 0,002 mm
Método de comparação com blocos padrão sobre desempeno de granito
Medidor de Espessura com Relógio Comparador0 mm Até 100 mm 0,002 mm
Método de comparação com blocos padrão
Medidor de Espessura de Camada de Tinta SecaAté 1,5 mm 0,0010 mm
Método de comparação com padrão de espessura para camada de tinta seca
Micrômetro de Profundidade0 mm Até 300 mm (0,8 + L/135) µm, sendo L em mm
Método de comparação com padrão escalonado para micrômetro de profundidade e blocos padrão
Micrômetro Externo0 mm á 100 mm 0,001 mm
> 100 mm á 1000 mm (0,4 + L/179) µm, sendo L em mm
Método de comparação com hastes padrão, blocos padrão, plano óptico e paralelo óptico
Micrômetro Interno de 2 pontas0 mm Até 250 mm 0,001 mm
Método de calibração com máquina de medição linear
Micrômetro Interno de 3 pontas0 mm Até 225 mm 0,003 mm
Método de comparação com anel liso cilíndrico
Paquímetro0 mm Até 1000 mm 0,01 mm
Método de comparação com blocos padrão ou Método de comparação com padrão escalonado
Peneira GranulométricaAté 125 mm (3 + L/8) µm, sendo L em mm
Método de medição de aberturas e diâmetros de fios com projetor de perfil, microscópio, máquina de medição ou paquímetro
Régua Graduada0 mm Até 100 mm 0,005 mm
> 100 mm Até 2000 mm 0,2 mm
Método de medição da distância entre traços, por comparação à régua graduada utilizando lupa de medição
Método de medição da distância entre traços, com projetor de perfil
Relógio Apalpador0 mm Até 4 mm 0,0004 mm
Método de calibração com calibrador de relógios ou Método de calibração com máquina de medição linear
Relógio Comparador0 mm á 1 mm 0,0004 mm
> 1 mm até 50 mm 0,0007 mm
> 50 mm até 100 mm 0,0010 mm
Método de calibração com calibrador de relógios ou máquina de medição linear
Tambor Micrométrico0 mm à 50 mm 0,0007 mm
Calibração por comparação com máquina de medição linear
Trena0 mm Até 50 m (0,2 + L/160) mm, sendo L em m
Método de medição da distância entre traços, por comparação à régua graduada ou trena padrão utilizando lupa de medição

MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
Máquina para Medição de RugosidadeRa: 0,3 µm Até 3 µm Ra: 4,8 %
Rz: 2 µm Até 10 µm Rz: 5,3 %
Método de comparação com padrão de rugosidade
Microscópio0 mm até 50 mm 0º até 360º 0,002 mm 3´
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular

MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças DiversasRetitude: até 600 mm 0,0022 mm
Planeza: até 600 mm 0,0022 mm
Circularidade: até 400 mm 0,0022 mm
Cilindricidade: até 400 mm 0,0022 mm
Posição de um elemento: até 600 mm 0,0022 mm
Concentricidade: até 400 mm 0,0022 mm
Coaxialidade: até 400 mm 0,0022 mm
Simetria: até 600 mm 0,0022 mm
Paralelismo: até 600 mm 0,0022 mm
Perpendicularidade: até 600 mm 0,0022 mm
Inclinação: até 600 mm 0,0022 mm
Batimento radial: até 400 mm 0,0022 mm
Método de medição com máquina de medição tridimensional, máquina de medição linear, instrumentos de medição dimensional.
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes>50 mm até 100 mm 0,0008 mm
>100 mm até 500 mm 0,0018 mm
>500 mm até 600 mm 0,0042 mm
Até 360 ° 0,06°
Método de medição com máquina de medição tridimensional, máquina de medição linear, instrumentos de medição dimensional

PADRÕES DE COMPRIMENTO
Arame para Medição de Roscas0 mm Até 10 mm 0,0006 mm
Método de medição com máquina de medição linear
Calibrador Anel Liso CilíndricoAté 200 mm 0,0012 mm
Método de medição com máquina de medição linear
Calibrador Anel Liso CônicoAté 200 mm 0,0012 mm
Semiângulo de conicidade 0,004°
Método de medição com máquina de medição linear
Calibrador de Boca Até 200 mm 0,0012 mm
Método de medição com máquina de medição linear
Calibrador Tampão Liso CilíndricoAté 50 mm 0,0006 mm
>50 mm até 250 mm 0,0009 mm
Método de medição com máquina de medição linear
Calibrador Tampão Liso CônicoAté 250 mm 0,0009 mm
Semiângulo de conicidade 0,003°
Método de medição com máquina de medição linear
Esfera PadrãoAté 10 mm 0,0004 mm
>10 mm até 50 mm 0,0006 mm
>50 mm até 100 mm 0,0010 mm
Método de medição com máquina de medição linear
Haste PadrãoAté 600 mm (0,52+L/345) µm; L em mm
Método de comparação com bloco padrão utilizando comparador de blocos padrão, máquina de medição linear ou máquina de medição por coordenadas
Padrão de Espessura para Medidas de Espessura de Camada de Tinta Seca0 mm até 5 mm 0,0006 mm
Método de medição com máquina de medição linear

PADRÕES DE ÂNGULO
Esquadro0 mm até 500 mm 0,005 mm
Método de comparação da face do esquadro contra um esquadro padrão ou esquadro cilíndrico utilizando blocos padrão

PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
DesempenoAté 1000 mm 0,0012 mm
>1000 mm até 2000 mm 0,0020 mm
>2000 mm até 5000 mm 0,0030 mm
Determinação de topografia e do erro de planeza com nível eletrônico

PADRÕES E GABARITOS PARA ROSCA
Calibrador Anel Roscado Cilíndrico0 mm até 200 mm 0,003 mm
Método de comparação direta contra um padrão de comprimento (anel liso) utilizando uma máquina de medição linear utilizando uma ponta esférica
Calibrador Anel Roscado CônicoAté 200 mm 0,003 mm
Semiângulo de conicidade 0,008°
Método de medição com máquina de medição linear utilizando apalpadores duplos com esferas
Calibrador Tampão Roscado CilíndricoAté 250 mm 0,003 mm
Semiângulo do filete 0,06°
Método de medição com máquina de medição linear utilizando pares de arames
Calibrador Tampão Roscado CônicoAté 250 mm 0,003 mm
Semiângulo do filete 0,06°
Semiângulo de conicidade 0,008°
Método de medição com máquina de medição linear utilizando pares de arames
Gabarito de RoscasAté 10 mm 0,003 mm
Semiângulo do filete 0,06°
Método de medição em projetor de perfil ou microscópio

(Realizados nas instalações do cliente)

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Comparador de Diâmetros Internos0 até 100 mm 0,002 mm
Método de comparação com calibrador de relógios
Medidor de Altura0 mm Até 1000 mm 0,002 mm
Método de comparação com blocos padrão sobre desempeno de granito
Medidor de Espessura com Relógio Comparador0 mm Até 100 mm 0,002 mm
Método de comparação com blocos padrão
Medidor de Espessura de Camada de Tinta SecaAté 1,5 mm 0,0010 mm
Método de comparação com padrão de espessura para camada de tinta seca
Micrômetro de Profundidade0 mm Até 300 mm (0,8 + L/135) µm, sendo L em mm
Método de comparação com padrão escalonado para micrômetro de profundidade e blocos padrão
Micrômetro Externo0 mm Até 100 mm 0,001 mm
> 100 mm Até 1000 mm (0,4 + L/179) µm, sendo L em mm
Método de comparação com hastes padrão, blocos padrão, plano óptico e paralelo óptico
Micrômetro Interno de 3 pontas0 mm Até 225 mm
Método de comparação com anel liso cilíndrico 0,003 mm
Paquímetro0 mm Até 1000 mm 0,01 mm
Método de comparação com blocos padrão ou Método de comparação com padrão escalonado
Relógio Apalpador0 mm Até 4 mm 0,0008 mm
Método de calibração com calibrador de relógios
Relógio Comparador0 mm Até 50 mm 0,0008 mm
Método de calibração com calibrador de relógios

MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
Máquina para Medição de RugosidadeRa: 0,3 µm Até 3 µm Ra: 4,8 %
Rz: 2 µm Até 10 µm Rz: 5,3 %
Método de comparação com padrão de rugosidade
Microscópio0 mm até 50 mm 0º até 360º 0,002 mm 3´
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular
Projetor de Perfil0 mm Até 200 mm / 360º 0,002 mm / 3´
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular

PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
DesempenoAté 1000 mm 0,0012 mm
>1000 mm até 2000 mm 0,0020 mm
>2000 mm até 5000 mm 0,0030 mm
Determinação de topografia e do erro de planeza com nível eletrônico



Observações:

  1. A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%. Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
  2. A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
  3. O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.