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| Acreditação Nº |
127 |
| Data da Acreditação |
22/10/1999 |
| ACREDITAÇÃO VIGENTE |
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| Última Revisão do Escopo |
22/09/2023 |
| Razão Social |
Visomes Comercial Metrológica Ltda. |
| Nome do Laboratório |
Visomes Metrologia |
| Situação |
Ativo |
| Endereço |
Rua Joaquim dos Santos, 181 |
| Bairro |
RIO BONITO |
| CEP |
04823080 |
| Cidade |
São Paulo |
| UF |
SP |
| Telefone |
(11) 5662 9911 |
| Fax |
(11) 5666 9816 |
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ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO
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| Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
(Realizados nas instalações permanentes) |
ESPECTROFOTOMETRIA
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| Espectrofotômetro UV e UV-VIS | Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: até 3 nm) | 0,06 nm | | Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: acima de 3 nm a 5 nm) | 0,11 nm | | Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: 10 nm) | 1 nm | | Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: até 5 nm) | 0,11 nm | | Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: 10 nm) | 1 nm | | Escala fotométrica VIS: até 1,3 A (largura de banda: até 10 nm) | 0,003 A | | Escala fotométrica UV: até 1,5 A (largura de banda: até 10 nm) | 0,004 A | | Escala fotométrica VIS em transmitância: 5 %T até 99 %T (largura de banda até 6,5 nm) | 0,04 %T a 0,6 %T | | Escala fotométrica VIS: acima de 1,3 A até 3,3 A (largura de banda: até 6,5 nm) | 0,02 A | | Escala fotométrica VIS em transmitância: 0,05 %T até 5 %T
(largura de banda até 6,5 nm) | 0,003 %T | | Método de calibração por comparação com filtros padrão | | | Filtro (Comprimento de Onda) | De 195 nm a 650 nm largura de banda de 0,1 a 3 nm | 0,06 nm | | De 195 nm a 650 nm largura de banda acima de 3 a 5 nm | 0,13 nm | | Acima de 650 nm a 890 nm largura de banda entre 0,1 e 5 nm | 0,13 nm | | Método de calibração com espectrofotômetro | | | Filtro (Transmissividade) | 5 %T a 99 %T (absorbância entre 0 A e 1,3 A) na faixa de comprimentos de onda entre 230 nm e 841 nm | 0,060 %T a 0,7 %T ou 0,004 A | | 0,05 %T até 5 %T (absorbância acima de 1,3 A a 3,3 A) na faixa de comprimentos de onda entre 440 nm e 635 nm e largura de banda até 6,5 nm | 0,003 %T ou 0,02 A | | Método de calibração com espectrofotômetro | |
INSTRUMENTOS ÓPTICOS
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| Lensômetro | -25 D até 25 D (esférico) | * 0,05 D | | 5 D (cilíndrica) | * 0,03 D | | 5 Λ (prismática) | * 0,02 Λ | | 0° até 180° (desvio angular) | * 0,02° | | Método de calibração por comparação com lentes padrão | | | Polarímetro | Rotação óptica
Faixa: -10° a 50°
| 0,003° | | Método de calibração com placas de quartzo | | | Sacarímetro Polarimétrico | Rotação óptica
Faixa: -30° Z a 145° Z
| 0,015° Z | | Método de calibração com placas de quartzo | |
REFRATOMETRIA
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| Refratômetro | 1,33 nD | 0,00002 nD | | > 1,33 nD até 1,4 nD | 0,00003 nD | | > 1,4 nD até 1,56 nD | 0,00011 nD | | (0 a 90) % Brix | (0,01 a 0,05) % Brix | | Método de calibração por comparação com MRC ou com refratômetro | |
(Realizados nas instalações do cliente) |
ESPECTROFOTOMETRIA
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| Espectrofotômetro UV e UV-VIS | Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: até 3 nm) | 0,06 nm | | Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: acima de 3 nm a 5 nm) | 0,11 nm | | Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: 10 nm) | 1 nm | | Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: até 5 nm) | 0,11 nm | | Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: 10 nm) | 1 nm | | Escala fotométrica VIS: até 1,3 A (largura de banda: até 10 nm) | 0,003 A | | Escala fotométrica UV: até 1,5 A (largura de banda: até 10 nm) | 0,004 A | | Escala fotométrica VIS em transmitância: 5 %T até 99 %T (largura de banda até 6,5 nm) | 0,04 %T a 0,6 %T | | Escala fotométrica VIS: acima de 1,3 A até 3,3 A (largura de banda: até 6,5 nm) | 0,02 A | | Escala fotométrica VIS em transmitância: 0,05 %T até 5 %T
(largura de banda até 6,5 nm) | 0,003 %T | | Método de calibração por comparação com filtros padrão | |
INSTRUMENTOS ÓPTICOS
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| Lensômetro | -25 D até 25 D (esférico) | * 0,05 D | | 5 D (cilíndrica) | * 0,03 D | | 5 Λ (prismática) | * 0,02 Λ | | 0° até 180° (desvio angular) | * 0,02° | | Método de calibração por comparação com lentes padrão | | | Polarímetro | Rotação óptica
Faixa: -10° a 50°
| 0,003° | | Método de calibração com placas de quartzo | | | Sacarímetro Polarimétrico | Rotação óptica
Faixa: -30° Z a 145° Z
| 0,015° Z | | Método de calibração com placas de quartzo | |
REFRATOMETRIA
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| Refratômetro | 1,33 nD | 0,00002 nD | | > 1,33 nD até 1,4 nD | 0,00003 nD | | > 1,4 nD até 1,56 nD | 0,00011 nD | | (0 a 90) % Brix | (0,01 a 0,05) % Brix | | Método de calibração por comparação com MRC ou com refratômetro | |
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Observações:
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A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%.
Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
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A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
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O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.
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