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Acreditação Nº 127
Data da Acreditação 22/10/1999
ACREDITAÇÃO VIGENTE Clique aqui para mais informações.
Última Revisão do Escopo 30/12/2019
Razão Social Visomes Comercial Metrológica Ltda.
Nome do Laboratório Visomes Metrologia
Situação Ativo
Endereço Rua Joaquim dos Santos, 181
Bairro RIO BONITO
CEP 04823080
Cidade São Paulo
UF SP
Telefone (11) 5662 9911
Fax (11) 5666 9816

Grupo de Serviço de Calibração ÓPTICA
Gerente Técnico RODOVAL RAIMUNDO FILHO
Email rodoval@visomes.com.br

ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO


Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)

(Realizados nas instalações permanentes)

ESPECTROFOTOMETRIA
Espectrofotômetro UV e UV-VISEscala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: até 3 nm) 0,06 nm
Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: acima de 3 nm a 5 nm) 0,11 nm
Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: 10 nm) 1 nm
Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: até 5 nm) 0,11 nm
Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: 10 nm) 1 nm
Escala fotométrica VIS: até 1,3 A (largura de banda: até 10 nm) 0,003 A
Escala fotométrica UV: até 1,5 A (largura de banda: até 10 nm) 0,004 A
Escala fotométrica VIS em transmitância: 5 %T até 99 %T (largura de banda até 6,5 nm) 0,04 %T a 0,6 %T
Escala fotométrica VIS: acima de 1,3 A até 3,3 A (largura de banda: até 6,5 nm) 0,02 A
Escala fotométrica VIS em transmitância: 0,05 %T até 5 %T (largura de banda até 6,5 nm) 0,003 %T
Método de calibração por comparação com filtros padrão
Filtro (Comprimento de Onda)De 195 nm a 650 nm largura de banda de 0,1 a 3 nm 0,06 nm
De 195 nm a 650 nm largura de banda acima de 3 a 5 nm 0,13 nm
Acima de 650 nm a 890 nm largura de banda entre 0,1 e 5 nm 0,13 nm
Método de calibração com espectrofotômetro
Filtro (Transmissividade)5 %T a 99 %T (absorbância entre 0 A e 1,3 A) na faixa de comprimentos de onda entre 230 nm e 635 nm 0,060 %T a 0,7 %T ou 0,004 A
0,05 %T até 5 %T (absorbância acima de 1,3 A a 3,3 A) na faixa de comprimentos de onda entre 440 nm e 635 nm e largura de banda até 6,5 nm 0,003 %T ou 0,02 A
Método de calibração com espectrofotômetro

INSTRUMENTOS ÓPTICOS
Lensômetro-25 D até 25 D (esférico) * 0,05 D
5 D (cilíndrica) * 0,03 D
5 Λ (prismática) * 0,02 Λ
0° até 180° (desvio angular) * 0,02°
Método de calibração por comparação
PolarímetroRotação óptica Faixa: -10° a 30° 0,003°
Método de calibração com placas de quartzo
Sacarímetro PolarimétricoRotação óptica Faixa: -30° Z a 90° Z 0,015° Z
Método de calibração com placas de quartzo

REFRATOMETRIA
Refratômetro1,33 nD 0,00002 nD
> 1,33 nD até 1,4 nD 0,00003 nD
> 1,4 nD até 1,56 nD 0,00011 nD
(0 a 90) % Brix (0,01 a 0,05) % Brix
Método de calibração por comparação

(Realizados nas instalações do cliente)

ESPECTROFOTOMETRIA
Espectrofotômetro UV e UV-VISEscala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: até 3 nm) 0,06 nm
Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: acima de 3 nm a 5 nm) 0,11 nm
Escala de comprimento de onda de 240 nm até 640nm (largura de banda: 10 nm) 1 nm
Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: até 5 nm) 0,11 nm
Escala de comprimento de onda acima de 640 nm até 880 nm (largura de banda: 10 nm) 1 nm
Escala fotométrica VIS: até 1,3 A (largura de banda: até 10 nm) 0,003 A
Escala fotométrica UV: até 1,5 A (largura de banda: até 10 nm) 0,004 A
Escala fotométrica VIS em transmitância: 5 %T até 99 %T (largura de banda até 6,5 nm) 0,04 %T a 0,6 %T
Escala fotométrica VIS: acima de 1,3 A até 3,3 A (largura de banda: até 6,5 nm) 0,02 A
Escala fotométrica VIS em transmitância: 0,05 %T até 5 %T (largura de banda até 6,5 nm) 0,003 %T
Método de calibração por comparação com filtros padrão

INSTRUMENTOS ÓPTICOS
Lensômetro-25 D até 25 D (esférico) * 0,05 D
5 D (cilíndrica) * 0,03 D
5 Λ (prismática) * 0,02 Λ
0° até 180° (desvio angular) * 0,02°
Método de calibração por comparação
PolarímetroRotação óptica Faixa: -10° a 30° 0,003°
Método de calibração com placas de quartzo
Sacarímetro PolarimétricoRotação óptica Faixa: -30° Z a 90° Z 0,015° Z
Método de calibração com placas de quartzo

REFRATOMETRIA
Refratômetro1,33 nD 0,00002 nD
> 1,33 nD até 1,4 nD 0,00003 nD
> 1,4 nD até 1,56 nD 0,00011 nD
(0 a 90) % Brix (0,01 a 0,05) % Brix
Método de calibração por comparação



Observações:

  1. A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%. Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
  2. A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
  3. O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.